Poniżej przedstawiamy przykładowe zagadnienia badawcze:

– Optymalizacja metodyki ekstrakcji parametrów charakteryzujących jakość technologii CMOS w oparciu o charakterystyki elektryczne struktur testowych mierzonych w różnych warunkach,

– Optymalizacja sekwencji i warunków prowadzenia pomiarów charakterystyk elektrycznych struktur testowych pod kątem minimalizacji wpływu historii pomiarów wykonanych na danej strukturze testowej na wartości parametrów mierzonych i ekstrahowanych,

– Optymalizacja struktur testowych pod kątem maksymalizacji ich czułości na wielkości ekstrahowanych parametrów charakteryzujących jakość technologii CMOS,

– Technologia nanodrutów krzemowych do zastosowań w nowoczesnych przyrządach półprzewodnikowych,

– Technologia pamięci RRAM bazujących na tlenkach i azotkach krzemu,

– Technologia wytwarzania struktury bramkowej w technologii CMOS FD-SOI.

Więcej informacji: https://sd.pw.edu.pl/Szkoly-Doktorskie/Szkola-Doktorska-nr-3/Dla-Kandydatow

 

Zapraszamy również do kontaktu i indywidualnych konsultacji z pracownikami CEZAMAT w zakresie możliwości realizacji badań naukowych w ramach wszystkich Szkół Doktorskich Politechniki Warszawskiej!

Więcej informacji o rekrutacji do Szkół Doktorskich: https://sd.pw.edu.pl/