Pomiary elipsometryczne

Oferujemy kompleksowe pomiary elipsometryczne próbek wraz z ich analizą

• Możliwość badania podłoży o max. średnicy 200 mm
• Wyznaczanie grubości cienkich warstw z materiałów przepuszczających lub częściowo przepuszczających światło;
• Szacowanie składu materiałów wieloskładnikowych
• Pomiar grubości materiałów wielowarstwowych oraz wyznaczanie parametrów optycznych tych warstw;
• Mapowanie (2D) wyznaczanych parametrów (grubości i parametrów optycznych) na powierzchni próbki.,
• Zakres spektralny pomiaru od 190 nm do 2100 nm
• Zakres ruchu kątowego ramion od 40° do 90°
• Bogata baza materiałów umożliwiająca dopasowanie modelu do warunków pomiarowych i mierzonych materiałów.

Każdy proces jest wyceniany indywidualnie w zależności od potrzeb klienta. W celu otrzymania wyceny prosimy o kontakt: seminsys.cezamat@pw.edu.pl.