Skaningowa mikroskopia elektronowa

Oferujemy charakteryzację topografii próbek za pomocą wysokorozdzielczego skaningowego mikroskopu elektronowego(HR-SEM) Auriga 60 firmy Carl Zeiss o zdolności rozdzielczej powyżej 2,0 nm 1 kV, powyżej 1,0 nm 15 kV, powiększeniu: od 20 do 2 000 000:

• napięcie przyspieszające: od 0,1 kV do 30 kV,
• średnica badanych próbek do 200 mm,
• możliwość charakteryzacji z przechyłem kątowym do 65 stopni,
• możliwość charakteryzacji przełomów próbek

kontakt: uslugi.cezamat@pw.edu.pl