Charakteryzacja – mikroskopia

Mikroskopia optyczna – oferujemy możliwość obserwacji optycznej i analizy próbek z różnych materiałów pod mikroskopem

Zakres powiększeń obiektywów: 1,25x, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x, 150x
Powiększenie okularów 10x
Powiększenie całkowite od 12,5 do 1500
Tryby obserwacji: RL-BF, RL-DF, RL-DIC, TL
Zakres ruchu stolika w osi X: 0 ÷ 200 mm oraz osi Y: 0 ÷ 200 mm
Wyposażony w siedem obiektywów planapochromatycznych
Obserwacja zarówno w świetle odbitym, jak i w świetle przechodzącym, dostępne są również tryby obserwacji w polu ciemnym oraz kontrastu interferencyjnego

Skaningowa mikroskopia elektronowa – oferujemy możliwość badania próbek z różnych materiałów i prostej analizy topografii powierzchni

Napięcie przyspieszające regulowane w zakresie 0,1kV – 30kV
System pozwalający na uzyskiwanie obrazów SE i BSE
Zdolność rozdzielcza powyżej 2,0 nm @ 1kV, powyżej 1,0 nm @ 15kV, powiększenie: od 20 do 2 000 000
Zakres ruchu stolika w osi X: 0 ÷ 110 mm, w osi, Y: 0 ÷ 110 mm oraz w osi Z: 1,5 ÷ 40 mm, nachylenie: -5° ÷ +60°, obrót: 360°
Zapis cyfrowy obrazu w rozdzielczości 3072 x 2304 pikseli (7 MP)
Możliwość badania podłoży o średnicy do 200 mm jak również małych fragmentów

Każdy proces jest wyceniany indywidualnie w zależności od potrzeb klienta. W celu otrzymania wyceny prosimy o kontakt: seminsys.cezamat@pw.edu.pl.