Analiza elementarna materiałów stałych oraz powłok

  • analiza przy użyciu techniki LIBS (Laser Induced Breakdown Spectroscopy, laserowo wzbudzana spektroskopia emisyjna)
  • brak potrzeby przygotowania próbek
  • możliwa analiza powłok o grubości co najmniej 5 µm
  • oznaczanie dużej grupy pierwiastków – również C, H, O, N, Li, Be, F
  • możliwość obrazowania próbek i wybierania fragmentów do analizy (badania niejednorodności materiałów)
  • nieprzeznaczona do analiz śladowych 

Kontakt:

Skip to content